測試服務

長電科技的認證質量測試中心,提供多種可靠性試驗,包括環境可靠性測試、使用壽命可靠性測試、板級可靠性試驗,和全方位的失效分析服務。

長電科技已經獲得中國合格評定國家認可委員會的實驗室認可證書(CNAS認證)

可靠性測試:

項目標準應用
前置條件測試(PRE)  JESD22-A113 模擬運輸、儲存直至電路板組裝過程中不斷變化的環境(包括升高的溫度和濕度)的影響。該測試應在可靠性測試之前進行。
濕敏等級(MSL)  IPC/JEDEC J-STD-020 確定對濕氣引起的應力敏感的非密封表面貼裝器件 (SMD) 的分類級別,以便它們可以正確封裝、存儲和處理,以避免在組裝回流焊連接和/或維修操作期間損壞
溫濕度測試(THT) GB/T2423.3
JESD22-A101
評價產品長期承受濕度和溫度應力的能力
溫度循環測試(TCT)  JESD22-A104
GB/T 2423.22
評估產品承受交替高溫和低溫極端情況的能力
高溫儲存測試(HTST) GB/T 2423.2
JESD22-A103
評價產品長期承受高溫應力的能力
低溫儲存測試(LTST)  GB/T 2423.1
JESD22-A119
評價產品長期承受低溫應力的能力
壓力鍋測試(PCT)  JESD22-A102 評估包裝的防潮性能
高加速壓力測試(HAST)  JESD22-A110
JESD22-A118
評估非密封封裝器件在偏壓/無偏壓下的耐濕性
回流  JESD22-A113 評估回流焊過程中產生的熱阻和影響。
老化  GB/T 4587 訪問器件長期承受電應力(電壓和電流)和溫度應力(產品因負載溫升)的能力。
高溫反向偏置(HTRB)  GB/T 4587
JESD22-A108 
確定偏置條件和溫度隨時間對固態器件的影響。
可焊性  GB/T 2423.28
EIA/IPC/JEDEC J-STD-002 
評估產品的可焊性。
電氣測試 JESD201
JESD22-A121

評估產品在長時間溫濕度應力下的錫須生長情況。

 
GB/T 4589.1
GB/T 4587
GB/T 4586
GB/T 4023
GB/T 6571

 

評估產品的電容量。主要針對分立器件。

失效分析:

項目標準應用
光學顯微鏡   檢查樣品外觀,模具表面,裂紋,污染,劃痕,氧化層缺陷等。
X射線   檢查鍵合線,芯片連接和引線框架,空隙等。
* SAT 杰德J-STD-035-1999 檢查分層,包裝裂紋,樹脂中的模具裂紋 空隙,模具附著不良等。
JUNO測試   二極管,晶體管,MOS或三端穩壓器測試的半導體參數測量。
* IV曲線追蹤器 GB / T 13973-2012 MOS,BJT或IC的半導體參數測量。與好的單位相比發現差異。
存托憑證   TDR用于測量注入傳輸線中的脈沖的反射和時間延遲。故障點定位,阻抗測量,斷路/短路測試。
DE-CAP   去除化合物,裸露裸片,觀察裸片或引線鍵合缺陷 。
探針測試   觀察模具的電氣參數或特性曲線。
火山口測試   去除焊盤區域的頂部金屬層,然后觀察襯墊是否損壞。
離子銑削系統   機械拋光的精細加工,微小的裂紋和空隙(對于其他拋光方法而言是困難的),
多層結構界面,耐磨性,很容易損壞。
掃描電子顯微鏡   各種樣品的平面圖和橫截面顯微組織檢查
多層樣品檢查和精確的臨界尺寸測量
EDX   對指定的微觀結構,樣品表面的分析元素進行定性和半定量分析。
RIE   逐層檢查/檢查,例如蝕刻殘留物,金屬裂紋或破裂,氧化物缺陷和不良的通孔連接。
国产精品99无码一区二区